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環境
電気機器が設置された環境の分析から電気機器の洗浄まで行い、設備の安定運転に寄与します。
環境診断（環境診断ユニット）
わずかな腐食性ガスで劣化は進行します。微量すぎて気付かない、わずかなガスを長期曝露で捕捉できます。
- 規格（JEITA IT-1004）に準拠した診断手法で、設置環境を総合的に診断します。
- 伝統的な銅板腐食法も併用します。視覚的に腐食性、腐食原因物質を提示します。
- 環境中の腐食性因子を同定しますので、環境改善策・延命対策等を提案可能です。
- ※1SEM：Scanning Electron Microscopeの略（走査型電子顕微鏡）
環境評価点の算出例
| 記号 | 環境因子 | 測定値 | 評価点 |
|---|---|---|---|
| A | 温度（℃） | 27.6 | 4 |
| B | 相対湿度（%RH） | 40.0 | 1 |
| C1 | 二酸化硫黄 SO2（mdd） | - | 1 |
| C2 | 硫化水素 H2S（mdd） | 0.051 | 12 |
| C3 | 二酸化窒素 NO2（mdd） | 0.120 | 6 |
| C4 | 塩化物イオン Cl－（mdd） |
0.015 | 1 |
| C5 | アンモニウムイオン NH4+（mdd） |
0.24 | 6 |
| D | 海塩粒子量（mdd） | 0.0001 | 1 |
| 環境評価点 | 32 | ||
（mdd）=mg/100cm2/day
環境評価点＝A＋B＋C1＋C2＋C3＋C4＋C5＋D
環境診断（環境センサ）
2種類のQCM※センサの信号値の差分から腐食性因子による影響を数値化し、 汚損度（等面塩分量）に換算することで汚損状態を評価します。
- 対象機器に影響を与えず汚損状態を評価できます。
- スミア法と異なり、工場での分析作業が不要なため、診断結果を迅速にご報告できます。
- 設備の汚損レベルにより適切なメンテナンス方法（メーカ点検・洗浄サービス）を提案します。
- ※ QCM：水晶振動子微量秤量法（Quartz Crystal Microbalance）
汚損度測定（スミア法※）
劣化を促進する汚損物質は時間をかけて徐々に蓄積します。大切な機器の汚損度を把握できます。
- 一定面積拭き取り、汚損物質を純水に溶解し、電気伝導率（電導度）から等価塩分量に換算した汚損度により汚損状態を評価します。
- 対象機器に影響を与えず汚損物質を採取できます。
- イオン分析（オプション）により汚損因子（腐食性イオン）の同定が可能です。
- 設備の汚損レベルにより最適なメンテナンス方法（メーカ点検・洗浄サービス）を提案します。
- ※スミア法（smear test）：試料（汚損）をろ紙に吸着し採取する方法
汚損区分
| 汚損区分 | 汚損度（NaCl mg/cm2） |
|---|---|
| 清浄 | 0.01以下 |
| 軽汚損 | 0.01を超え0.03以下 |
| 中汚損 | 0.03を超え0.06以下 |
| 重汚損 | 0.06を超え0.12以下 |
| 超重汚損 | 0.12を超える |
絶縁抵抗に及ぼす影響
洗浄サービス
電気機器（プリント基板等）に悪影響を与えるイオン性物質を洗浄し設備の安定運転に寄与します。
TOSRESH®-Sの洗浄性能
| 洗浄液 | イオン成分洗浄性 | 乾燥性 |
|---|---|---|
| TOSRESH®-S | ○ | ○ |
| 純水 | ○ | × |
| アルカリ系洗浄剤 | △ | × |
TOSRESH®-Sは、純水より浸透性が高くより効果的です。
- イオン性物質に洗浄性能の優れた東芝独自の洗浄液TOSRESH®-Sにより洗浄を行います。
- 弊社持込洗浄になります。
洗浄工程
プリント基板の洗浄例
洗浄前
洗浄後
堆積塵埃の汚損現象
洗浄サービス対象機器は（株）TMEIC製（旧（株）東芝製を含む）ドライブ装置にて使用されている基板となります。
